iST 宜特始创于1994年，在亚洲半导体产业启航期间，开创 IC 电路修改 (FIB) 服务，改变了整体半导体产业既有验证模式。协助 IC 除错、分析，巩固质量，「解决客户的痛处」，扮演加速客户产品上市的研发伙伴。一站式可靠性测试、失效分析、成分分析、有害物质检测、耐久性试验、PCB检测、离子清洁度、芯片检测分析、温湿度寿命测试、离子清洁度、硫磺熏蒸检测验证、助焊剂检测验证、芯片逆向竞争力分析服务
尔后逐年拓展新服务，包括故障分析 (FA)、可靠度验证 (RA)、材料分析 (MA)、化学/工艺微污染分析、信号测试等。
宜特从验证领域，跨入「MOSFET晶圆后端工艺整合服务」。这是一项介于晶圆代工(Front-End)到封装(Back-End)之间的制程处理-晶圆薄化(FSM及BGBM)，此步骤将使MOSFET得以实现低功耗/低输入阻抗。
布局全球、放眼世界
iST宜特从台湾出发，陆续在世界拓展营运据点，包括中国-宜特 (昆山) 检测技术服务有限公司;日本;美国 iST，期能为客户提供更完整、快速、先进与创新之高质量技术服务，与全球领先趋势共同成长。
